據統計(jì)電(diàn)子(zǐ)測量測試錯(cuò)誤70%  ♣的(de)原因都(dōu)來(lái)源于不(bù)良的(∏"de)外(wài)圍連接，在毫米波、太赫茲及高(gāo)速數(shù←≤→)字應用(yòng)中，這(zhè)樣的(de)矛盾顯得(§σde)尤為(wèi)突出，達通(tōng)電(diàn)子(zǐ)的(de)目​£标就(jiù)是(shì)為(wèi)用(yòng)₹×戶解決各種測試工(gōng)作(zuò)中的(de)外(wài)圍連接問(•₩wèn)題，通(tōng)過精良可(kě★γ)靠的(de)解決方案将您的(de)産品和(hσ₩é)各種先進測試儀表連接在一(yī)起，開(kāi)啓先進測試的(de)第一(γ©↑yī)步。

達通(tōng)的(de)使命便是(shì)使您的(de)射頻(pín)測←‌ε試測量自(zì)動、高(gāo)效、準确無誤；擁有(yǒu)成熟的(d≥♣e)定制(zhì)方案，豐富的(de)端面選擇€>§，接受新界面定制(zhì)開(kāi)發等射頻(pín)微(wēi)波探←§₽針、探台、測試線、轉接器(qì)及測試系統解決方案，使您的(de) ↕ε₽射頻(pín)測試測量自(zì)動、高(gāo)δΩ效、準确無誤！系列産品也(yě)廣泛應用(yòng)于移動¶β通(tōng)訊設備、手機(jī)電(diàn)腦(nǎo)"Ω、數(shù)字家(jiā)電(diàn)、航空(kōng)航₩ ≈天、國(guó)防、芯片、射頻(pín)識别、廣§Ω ↔播電(diàn)視(shì)、儀器(qì)儀表、軌道(dào✔←↔)交通(tōng)、醫(yī)療設備等高(gāo)新科(kē)技(jì)領域。↓↓

我司有(yǒu)完全自(zì)主可(kě)控的(de)核心技(jì)術(≥∑₽↕shù)，相(xiàng)關專利證書(shū)已有(yǒu±←≤♣)51個(gè)，滿足各種技(jì)術(shù)應用(yòng)，具備>ε&先進的(de)産品仿真設計(jì)到(dào)嚴格的(d&♠e)生(shēng)産管理(lǐ)體(tǐ)系及質量管理(lǐ)>≥ 、監測體(tǐ)系；高(gāo)精度機(jī)械加工(γ≠δgōng)技(jì)術(shù)、加工(gōng)設備。₩<α

△手機(jī)、平闆、智能(néng)穿戴自(zì)動化(huà)測試互σπε★聯解決方案
   在各類移動終端産品上(sβδσφhàng)，其模塊、電(diàn)路(lù)等射頻(pín)電(diàn≥★↑)路(lù)上(shàng)均需要(yào)進行(xíng)嚴格測試$≠。針對(duì)射頻(pín)電(dià$Ωn)路(lù)闆的(de)性能(néng)測Ω'₩₩試在被測件(jiàn)所在的(de)有(yǒu)限空(kōng)☆ ←間(jiān)中，電(diàn)闆上(shàng)器(>★qì)件(jiàn)安裝密度高(gāo)、測試批量大σ×∞(dà)；探針的(de)搭接測試方式提供了(le)測試連接的(de)快σ ≥★(kuài)捷性和(hé)高(gāo)可(kě)靠性。
   ●射頻(pín)連接器(qì)；
   ●射頻(pín)開(kāi)λ→≠關連接器(qì)；
   ●射頻(pín)電(diàn)路(lù)闆測₽∏$£試點；

△螺紋連接器(qì)、闆到(dào)闆、PogoPin彈簧針÷☆≈₽自(zì)動化(huà)測試解決方案
   方案特點 ●頻® (pín)率高(gāo)、駐波低(dī)；●穩定可(kě)靠；●經濟耐' ®↑用(yòng)；

△微(wēi)帶探測PCB測試測量解決方案
    達通(tōng)提供基于PCB信号傳輸檢測的(∏₽♦★de)不(bù)同解決方案，使用(yòng)各種不(§✘bù)同形式的(de)探針匹配不(bù)同的(de)PCB信号測試點，'£‍測試高(gāo)頻(pín)信号，檢查電(diàn)路(lù)闆的(de)質量‌<≈，為(wèi)确保測試探針正确對(duì₩ ∞)齊測試點，探針需與安裝夾具配合，确保準确的(de)測量位置。
   ●DUTON為(wèi)以下(xià)電(diàn)路(lù)闆測試點λ>φ提供了(le)射頻(pín)探針；

△同軸系統完整測試方案
    達通(tōng)電(dià☆←n)子(zǐ)可(kě)提供同軸及高(gāo§®€)低(dī)頻(pín)系統探測搭接解決方案，頻(pín)率DC-1₩π ε10GHz；
    射頻(pín)微(wēi)波器(qì)件(jiàn)及芯片測試；         ∞£;高(gāo)速數(shù)字電(diàn)路(÷↓lù)測試；
    ●測試電(dià↓₽♥βn)纜；      &nbs₽₩∏p;       &nb✘φsp;     &nbs>£✘p;       Ω♥™;      ε±↑; ●測試電(diàn)纜；
    ●測試同軸探頭；     "‍±      ≠♥®        &nbΩ‍sp;      &φ●射頻(pín)高(gāo)速連接器(qì)；   
    ●測試夾具；         π×;          β"∏♦        &nβ‍$εbsp;      ●射頻(pín)高(gā♠σ₩≠o)速差分(fēn)PCB闆；

△探針系統綜合測試方案
    射頻(pín)微(wēi)波半導體(tǐ)芯片的(de)測試需要(y δ∏ào)在探針台完成，測試參數(shù)包含直流參©¥¥數(shù)、射頻(pín)參數(shù)等，達通∏₩φ₽(tōng)電(diàn)子(zǐ)為(wèi)射頻(σ‌pín)微(wēi)波半導體(tǐ)芯片的(§ §☆de)測試提供定制(zhì)化(huà)測試探針台、微(w••φēi)波探針、校(xiào)準片；可(kě)以方便與Keys∑♣ ight和(hé)RS等公司的(de)微(wēi)波測試儀表進行(xíng₩≥$↑)連接測試。
    主要(yào)産品型号：定制(>€∞zhì)化(huà)探針台，包含手動測試台和(hé)自(zì)動測試台、微(w©‍×∏ēi)波探針及校(xiào)準片；
    工(gōng)作(z♣→↔uò)頻(pín)率：DC-40GHz；
   &n¶≈γ​bsp;特點：性價比高(gāo)、可(k→∞∞ě)定制(zhì)化(huà)設計(jì)、測試結果比較；
（在探針台上(shàng)完成所需測試，測試參數(≈"•γshù)包含直流參數(shù)、射頻(pí☆≠ n)參數(shù)等；）
   ●精度高(gāo)；
   ●頻(± ✔★pín)率範圍寬；
   ●最具成本效益和(hé)精确的(‍γε÷de)探針解決方案；
   ●操作(zuò)簡單、精密可(kě™£)靠；
   ●X軸Y軸可(kě)獨立¶←↑進行(xíng)調整；
   ●定制(z≥"hì)探針座及探針間(jiān)距；
   ●靈活的(de)搭配選擇'♠↓‌方案；
   ●适合多(d↑¥♥≤uō)種應用(yòng)場(chǎng)景；